GB/T 11071-2018 区熔锗锭
GB/T 11071-2018
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标准GB/T 11071-2018标准状态
- 发布于:2018-12-28
- 实施于:2019-07-01
- 废止
内容简介
国家标准《区熔锗锭》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)、全国有色金属标准化技术委员会联合归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了区熔锗锭的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、质量证明书和订货单(或合同)内容。本标准适用于以还原锗锭及锗单晶返料为原料,经区熔提纯工艺制备得到的区熔锗锭。ZGe-0区熔锗锭主要用于制备半导体及高纯锗探测器用的高纯锗单晶;ZGe-1区熔锗锭主要用于制备红外光学和太阳能电池用的锗单晶及各类锗-铬、锗-硅合金等。
起草单位
云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、中锗科技有限公司、广东先导稀材股份有限公司、云南东昌金属加工有限公司、有研光电新材料有限责任公司、衡阳恒荣高纯半导体材料有限公司、锡林郭勒通力锗业有限责任公司、
起草人
包文东、 普世坤、 惠峰、 范德胜、 董汝昆、 朱刘、 李贺成、冯德伸、朱知国、李正美、尹士平、王晓华、
相近标准
YS/T 602-2017 区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法
YS/T 602-2007 区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法
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