标准详情
- 标准名称:集成电路测试用微波探针应用规范
- 标准号:DB51/T 3207-2024
- 中国标准分类号:L86
- 发布日期:2024-12-03
- 国际标准分类号:17.220
- 实施日期:2024-12-29
- 技术归口:四川省经济和信息化厅
- 代替标准:
- 主管部门:四川省市场监督管理局
- 标准分类:计量学和测量、物理现象电学、磁学、电和磁的测量制造业四川省
地方标准《集成电路测试用微波探针应用规范》由四川省经济和信息化厅归口上报,主管部门为四川省市场监督管理局。本文件规定了集成电路测试用微波探针(以下简称“探针”)的分类、应用要求、故障判定、推荐指数、维护需求等。本文件适用于微波集成电路中测试微波探针的选用。
中国电子科技集团公司第九研究所
刘福涵、冯楠轩、王慧丽、张芦、高春燕、丁敬垒、李晓宇、张志红、高晓琴、肖佳琪
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