当前位置：标准网 地方标准

DB31/T 1648-2025 元器件抗辐射性能评估指南

DB31/T 1648-2025 元器件抗辐射性能评估指南

DB31/T 1648-2025

地方标准上海市推荐性
收藏 报错

标准DB31/T 1648-2025标准状态

  1. 发布于：
  2. 实施于：
  3. 废止

标准详情

内容简介

地方标准《元器件抗辐射性能评估指南》，主管部门为上海市市场监督管理局。本文件规定了空间飞行器用元器件抗辐射性能评估的元器件选用、分析、试验，以及试验结果应用和抗辐射加固设计。本文件适用于空间飞行器用电子元器件的抗辐射性能评估。

起草单位

上海航天技术基础研究所、上海电机学院

起草人

马林东、刘元、琚安安、汪波、秦林生、孔泽斌、祝伟明、王昆黍、黄超、刘伟亮

相近标准

20062257-T-604 仪表元器件 术语
GB/T 13965-2010 仪表元器件 术语
GB/T 4475-1995 敏感元器件术语
宇航用元器件结构分析通用指南
20193227-T-469 宇航用元器件结构分析通用指南
GB/T 41032-2021 宇航用元器件结构分析通用指南
20120069-T-520 宇航元器件鉴定要求
GB/T 29074-2012 宇航元器件鉴定要求
SJ/T 10554-1994 敏感元器件 文字符号
SJ/T 10221-1991 电子元器件制造质量控制指南

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

标准网本地下载
  • 标准质量：

    • 下载说明

  • ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
    ② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们，感谢！
    ③ 本站资源均来源于互联网，仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
  • 在线纠错
    • 标准过期 下载问题 模糊有误 其它问题

    「相关推荐」