GB/T 19403.1-2003 半导体器件集成电路第11部分:第1篇:半导体集成电路内部目检 (不包括混合电路)_标准下载

GB/T 19403.1-2003 半导体器件集成电路第11部分:第1篇:半导体集成电路内部目检 (不包括混合电路)

Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)

GB/T 19403.1-2003

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标准GB/T 19403.1-2003标准状态

发布于：2003-11-24
实施于：2004-08-01
废止

标准详情

标准名称：半导体器件集成电路第11部分:第1篇:半导体集成电路内部目检 (不包括混合电路)
标准号：GB/T 19403.1-2003
中国标准分类号：L56
发布日期：2003-11-24
国际标准分类号：31.200
实施日期：2004-08-01
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体器件集成电路第11部分:第1篇:半导体集成电路内部目检 (不包括混合电路)》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
进行内部目检的目的是检验集成电路的内部材料、结构和工艺，验证与适用的规范要求的一致性。通常应在封帽或密封之前对器件进行100%内部目检。以发现可能导致器件在正常使用时失效的内部缺陷并剔除相应器件。本试验也可按抽样方式在封帽之前使用，以确定承制方对半导体器件质量控制和操作程序的有效性。

起草单位

信息产业部第四研究所、

起草人

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