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GB/T 4589.1-1989 半导体器件分立器件和集成电路总规范 (可供认证用)

Semiconductor devices. Generic specification for discrete devices and integrated circuits

GB/T 4589.1-1989

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标准GB/T 4589.1-1989标准状态

发布于：1989-03-31
实施于：1990-01-01
废止

标准详情

标准名称：半导体器件分立器件和集成电路总规范 (可供认证用)
标准号：GB/T 4589.1-1989
中国标准分类号：L40
发布日期：1989-03-31
国际标准分类号：31.080
实施日期：1990-01-01
技术归口：
代替标准：
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学半导体分立器件

内容简介

本标准构成国际电工委员会电子元器件质量评定体系(IECQ)的一部分。本标准是半导体器件(分立器件和集成电路，包括多片集成电路，但不包括混合电路)的总规范。本标准规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序，并给出了下述方面的总原则:电特性的测试方法；气候的机械试验；耐久性试验。注:当存在已批准的、适用于特定的一种或几种器件类型的分规范、种类(或族)规范和空白详细规范时，必须用这些规范来补充本标准。

起草单位

起草人

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