GB/T 12843-1991 半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理_标准下载

GB/T 12843-1991 半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理

General principle of measuring methods of microprocessors and peripheral interface circuits' parameters for semiconductor integrated circuits

GB/T 12843-1991

国家标准推荐性

收藏报错

标准GB/T 12843-1991标准状态

发布于：1991-04-28
实施于：1991-12-01
废止

标准详情

标准名称：半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理
标准号：GB/T 12843-1991
中国标准分类号：L55
发布日期：1991-04-28
国际标准分类号：31.200
实施日期：1991-12-01
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学集成电路微电子学

内容简介

本标准规定了半导体集成电路微处理器及外围接口电路（以下简称器件）电参数测试方法的基本原理。本标准适用于器件电参数的测试。

起草单位

机械电子工业部北京机械自动化研究所、电子标准化研究所

起草人

相近标准

SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
GB/T 7509-1987 半导体集成电路微处理器空白详细规范 (可供认证用)
GB/T 15136-1994 半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理
SJ/T 10804-2000 半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理
SJ/T 10805-2000 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

标准网本地下载