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GB/T 5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法

GB/T 5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法

Germanium monocrystal - inspection of dislocation etch pit density

GB/T 5252-2006

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  • 标准名称：锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
  • 标准号：GB/T 5252-2006
    中国标准分类号：H17
  • 发布日期：2006-07-18
    国际标准分类号：77.040.01
  • 实施日期：2006-11-01
    技术归口：中国有色金属工业协会
  • 代替标准：代替GB/T 5252-1985被GB/T 5252-2020代替
    主管部门：中国有色金属工业协会
  • 标准分类：冶金金属材料试验金属材料试验综合

内容简介

国家标准《锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法》由610（中国有色金属工业协会）归口，主管部门为中国有色金属工业协会。
本标准适用于位错密度0cm-2～100 0000cm-2的n型和p型锗单晶棒或片的位错密度或其他缺陷的测量．观察面为(111)(100)(113)面。

起草单位

北京有色金属研究总院、

起草人

余怀之、 刘建平、

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