GB/T 42674-2023 光学功能薄膜 微结构厚度测试方法
GB/T 42674-2023
国家标准推荐性标准GB/T 42674-2023标准状态
- 发布于:2023-08-06
- 实施于:2024-03-01
- 废止
内容简介
国家标准《光学功能薄膜 微结构厚度测试方法》由TC431(全国光学功能薄膜材料标准化技术委员会)归口,主管部门为中国石油和化学工业联合会。
本文件描述了通过扫描电子显微镜(SEM)检测光学功能薄膜(以下简称薄膜)横截面微结构厚度(以下简称横截面厚度)的方法。本文件适用于厚度不小于50nm的光学功能薄膜的单层或多层结构的厚度测试。
起草单位
中国乐凯集团有限公司、衡山县佳诚新材料有限公司、深圳市纵横标准技术有限公司、东莞市光志光电有限公司、合肥乐凯科技产业有限公司、浙江耀阳新材料科技有限公司、凯鑫森(上海)功能性薄膜产业股份有限公司、
起草人
夏江南、 高建辉、 田坤、 韩明星、 刘玉磊、 刘文亮、 赵建明、 曹建、 姜宁、赵朔、程媛、李宗、姚一凡、李文沾、周鹏、罗惠滨、
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