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GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers

GB/T 11685-2003

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  • 标准名称：半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
  • 标准号：GB/T 11685-2003
    中国标准分类号：F80
  • 发布日期：2003-07-07
    国际标准分类号：27.120.01
  • 实施日期：2004-01-01
    技术归口：全国核仪器仪表标准化技术委员会
  • 代替标准：代替GB/T 11685-1989,GB/T 8992-1988
    主管部门：国家标准化管理委员会
  • 标准分类：能源和热传导工程核能工程核能综合

内容简介

国家标准《半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法》由TC30（全国核仪器仪表标准化技术委员会）归口，TC30SC1（全国核仪器仪表标准化技术委员会通用核仪器和辐射探测器分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要特性的测量方法。 本标准适用于半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要性能的测量。

起草单位

核工业标准化研究所、

起草人

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