当前位置：标准网 国家标准

GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers

GB/T 11685-2003

国家标准推荐性
收藏 报错

标准GB/T 11685-2003标准状态

  1. 发布于：
  2. 实施于：
  3. 废止

标准详情

  • 标准名称：半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
  • 标准号：GB/T 11685-2003
    中国标准分类号：F80
  • 发布日期：2003-07-07
    国际标准分类号：27.120.01
  • 实施日期：2004-01-01
    技术归口：全国核仪器仪表标准化技术委员会
  • 代替标准：代替GB/T 11685-1989,GB/T 8992-1988
    主管部门：国家标准化管理委员会
  • 标准分类：能源和热传导工程核能工程核能综合

内容简介

国家标准《半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法》由TC30（全国核仪器仪表标准化技术委员会）归口，TC30SC1（全国核仪器仪表标准化技术委员会通用核仪器和辐射探测器分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要特性的测量方法。 本标准适用于半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要性能的测量。

起草单位

核工业标准化研究所、

起草人

相近标准

20233692-T-464 医用电气设备 X射线诊断影像中使用的电离室和(或)半导体探测器剂量计
20211956-T-469 半导体晶片表面金属沾污的测定 全反射X射线荧光光谱法
GB/T 19629-2005 医用电气设备 X射线诊断影像中使用的电离室和(或)半导体探测器剂量计
SJ/T 10714-1996 检查X射线光电子能谱仪工作特性的标准方法
SJ/T 11586-2016 半导体器件10KeV低能X射线总剂量辐照试验方法
GB/T 5201-2012 带电粒子半导体探测器测量方法
GB/T 42676-2023 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
YY/T 0590.2-2010 医用电气设备 数字X射线成像装置特性 第1-2部分：量子探测效率的测定 乳腺X射线摄影用探测器
GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪检定方法

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

点击下载
  • 标准质量：

    • 下载说明

  • ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
    ② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们，感谢！
    ③ 本站资源均来源于互联网，仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
  • 在线纠错
    • 标准过期 下载问题 模糊有误 其它问题

    「相关推荐」