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GB/T 22319.6-2023 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量

GB/T 22319.6-2023 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量

Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 6: Measurement of drive level dependence(DLD)

GB/T 22319.6-2023

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标准GB/T 22319.6-2023标准状态

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  • 标准名称:石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量
  • 标准号:GB/T 22319.6-2023
    中国标准分类号:L21
  • 发布日期:2023-09-07
    国际标准分类号:31.140
  • 实施日期:2024-01-01
    技术归口:全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
  • 代替标准:
    主管部门:工业和信息化部(电子)
  • 标准分类:电子学频率控制和选择用压电器件与介质器件

内容简介

国家标准《石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量》由TC182(全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
本文件适用于石英晶体元件激励电平相关性(DLD)的测量。本文件规定两种试验方法(A和C)和一种基准测量方法(方法B)。方法A以IEC60444-5的π型网络为基础,适用于本文件所覆盖的整个频率范围。基准测量方法B依据IEC 60444-5或IEC 60444-8的π型网络或反射法为基础,适用于本文件所覆盖的整个频率范围。方法C是振荡器法,适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。

起草单位

郑州原创电子科技有限公司、武汉海创电子股份有限公司、北京晨晶电子有限公司、

起草人

王国军、 宫桂英、 毛晶、

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