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GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction

GB/T 20724-2006

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标准GB/T 20724-2006标准状态

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  • 标准名称:薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
  • 标准号:GB/T 20724-2006
    中国标准分类号:N53
  • 发布日期:2006-12-25
    国际标准分类号:71.040.99
  • 实施日期:2007-08-01
    技术归口:全国微束分析标准化技术委员会
  • 代替标准:被GB/T 20724-2021代替
    主管部门:国家标准化管理委员会
  • 标准分类:化工技术分析化学有关分析化学的其他标准

内容简介

国家标准《薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口,主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本方法适用于测定线度为10m~×10m、厚度在几十至几百纳米范围的薄晶体厚度。

起草单位

北京科技大学、

起草人

柳得橹、

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