GB/T 28634-2012 微束分析电子探针显微分析块状试样波谱法定量点分析_标准下载

GB/T 28634-2012 微束分析电子探针显微分析块状试样波谱法定量点分析

Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Quantitative point analysis for bulk specimen using wavelength dispersive X-ray spectroscopy

GB/T 28634-2012

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标准GB/T 28634-2012标准状态

发布于：2012-07-31
实施于：2013-02-01
废止

标准详情

标准名称：微束分析电子探针显微分析块状试样波谱法定量点分析
标准号：GB/T 28634-2012
中国标准分类号：N53
发布日期：2012-07-31
国际标准分类号：71.040.99
实施日期：2013-02-01
技术归口：全国微束分析标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：国家标准化管理委员会
标准分类：化工技术分析化学有关分析化学的其他标准

内容简介

国家标准《微束分析电子探针显微分析块状试样波谱法定量点分析》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了应用电子探针或者扫描电镜(SEM)的波谱仪(WDS),通过电子束与试样相互作用产生的X射线对试样徽米尺度体积内的元素进行定量分析的要求。内容包括:定量分析原理;本方法涉及的元素、质量分数和标准物质的一般范围;仪器的一般要求;有关试样制备、实验条件的选择、分析测量等的基本过程及报告。本标准适用于电子束垂直入射,要求定量分析的块状试样表面平滑、均匀。对仪器和数据处理软件没有特殊的要求。使用者应该从仪器制造厂家获得仪器安装条件、详细的操作程序及仪器说明书。

起草单位

中国科学院上海硅酸盐研究所、

起草人

曾毅、李香庭、吴伟、

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