GB/T 13062-2018 半导体器件集成电路第21-1部分:膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)_标准下载

GB/T 13062-2018 半导体器件集成电路第21-1部分:膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)

Semiconductor devices.Integrated circuits.Part 21-1:Blank detail specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits on the basis of the qualification approval procedures

GB/T 13062-2018

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标准GB/T 13062-2018标准状态

发布于：2018-12-28
实施于：2019-07-01
废止

标准详情

标准名称：半导体器件集成电路第21-1部分:膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)
标准号：GB/T 13062-2018
中国标准分类号：L55
发布日期：2018-12-28
国际标准分类号：31.200
实施日期：2019-07-01
技术归口：
代替标准：代替GB/T 13062-1991
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学集成电路微电子学

内容简介

本部分规定了编制膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)的基本要求。本部分是膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范中的一个，宜与IEC 60748-20、IEC 60748-21一起使用。

起草单位

中国电子科技集团公司第四十三研究所、中国电子技术标准化研究院

起草人

冯玲玲、陈裕焜、雷剑、王琪、王婷婷、管松林

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