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GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法

GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法

Stripline test method for complex permittivity of microwave dielectric substrates

GB/T 12636-1990

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标准GB/T 12636-1990标准状态

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  • 标准名称：微波介质基片复介电常数带状线测试方法
  • 标准号：GB/T 12636-1990
    中国标准分类号：L04
  • 发布日期：1990-12-28
    国际标准分类号：29.040.20
  • 实施日期：1991-10-01
    技术归口：工业和信息化部（电子）
  • 代替标准：
    主管部门：工业和信息化部（电子）
  • 标准分类：电气工程

内容简介

本标准规定了微波介质基片复介电常数的带状线测试方法。 本标准适用于测试各种基片（如塑料、复合材料、陶瓷、硅酸盐和其他单晶体材料等）在微波频率下的复介电常数。 测试频率范围：f=1～20GHz 测试介电常数范围：ε＇＝2～25 测试损耗角正切范围：tanδ＝5×10～1×10

起草单位

电子科技大学

起草人

唐宗熙、张其劭、王玉功、曹江

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