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GB/T 16822-1997 介电晶体介电性能的试验方法

GB/T 16822-1997 介电晶体介电性能的试验方法

Test method for dielectric properties of dielectric crystal

GB/T 16822-1997

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标准GB/T 16822-1997标准状态

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  • 标准名称：介电晶体介电性能的试验方法
  • 标准号：GB/T 16822-1997
    中国标准分类号：L90
  • 发布日期：1997-05-28
    国际标准分类号：31.020
  • 实施日期：1998-02-01
    技术归口：工业和信息化部（电子）
  • 代替标准：
    主管部门：工业和信息化部（电子）
  • 标准分类：电子学电子元器件综合

内容简介

国家标准《介电晶体介电性能的试验方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准规定了介电晶体的低频（10MHz以下）介电系数及介电损耗的试验方法。 本标准适用于介电晶体的介电性能的测定。

起草单位

中国科学院物理研究所、

起草人

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