GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理_标准下载

当前位置：标准网国家标准

GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

Semiconductor integrated circuits--General principles of measuring methods of voltage comparators

GB/T 6798-1996

国家标准推荐性

收藏报错

标准GB/T 6798-1996标准状态

发布于：1996-07-09
实施于：1997-01-01
废止

标准详情

标准名称：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
标准号：GB/T 6798-1996
中国标准分类号：L56
发布日期：1996-07-09
国际标准分类号：31.200
实施日期：1997-01-01
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
代替标准：代替GB 6798-1986
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准规定了半导体集成电路电压比较器（以下简称器件）电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路电压比较器电特性的测试。

起草单位

北京半导体器件研究所、

起草人

相近标准

SJ/T 10805-2000 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
SJ/T 10805-2018 半导体集成电路电压比较器测试方法
SJ/T 10076-1991 半导体集成电路CJ710型电压比较器
GB/T 14114-1993 半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理
SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
SJ/T 10804-2000 半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理
SJ/T 10427.1-1993 半导体集成电路音响电路调频变频器测试方法的基本原理
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
SJ/T 10427.2-1993 半导体集成电路音响电路中频放大器测试方法的基本原理
GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

标准网本地下载