YS/T 1164-2016 硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法_标准下载

YS/T 1164-2016 硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法

Test method for the content of impurities in high purity quartz used for silicon material.Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry method

YS/T 1164-2016

国家标准推荐性

收藏报错

标准YS/T 1164-2016标准状态

发布于：2016-07-11
实施于：2017-01-01
废止

标准详情

标准名称：硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法
标准号：YS/T 1164-2016
中国标准分类号：Q30
发布日期：2016-07-11
国际标准分类号：81.040
实施日期：2017-01-01
技术归口：全国有色金属标准化技术委员会(/)
代替标准：
主管部门：工业和信息化部
标准分类：玻璃和陶瓷工业

内容简介

本标准规定了多晶硅用高纯石英制品中铝、钙、钾、钠、铜、镁、磷、砷、锌、镍、硼含量的测定方法。本标准适用于多晶硅用高纯石英制品中铝、钙、钾、钠、铜、镁、磷、砷、锌、镍、硼含量的测定，测定范围见表1。

起草单位

亚洲硅业(青海)有限公司、昆明冶研新材料股份有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、新特能源股份有限公司

起草人

相近标准

YB/T 4590-2017 硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法
JC/T 2027-2010 高纯石英中杂质含量的测定方法会电感耦合等离子体原子发射光谱法
YB/T 4462-2015 高纯硅铁硼含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法
SN/T 3363-2012 铅锭中杂质元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法
DB1310/T 229—2020 高纯碳材料中金属元素含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法
SN/T 2698-2010 钨制品中杂质元素分析电感耦合等离子体原子发射光谱法
YB/T 4461-2015 高纯硅铁锆和钼含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法
石墨材料当量硼含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法
20204779-T-605 石墨材料当量硼含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法
YB/T 4174.2-2008 硅钙合金磷含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

标准网本地下载