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GB/T 38532-2020 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定

GB/T 38532-2020 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定

Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Measurement of average grain size

GB/T 38532-2020

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标准GB/T 38532-2020标准状态

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  • 标准名称:微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定
  • 标准号:GB/T 38532-2020
    中国标准分类号:G04
  • 发布日期:2020-03-06
    国际标准分类号:71.040.40
  • 实施日期:2021-02-01
    技术归口:全国微束分析标准化技术委员会
  • 代替标准:
    主管部门:国家标准化管理委员会
  • 标准分类:化工技术分析化学化学分析

内容简介

国家标准《微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口,主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了用电子背散射衍射法(EBSD)对抛光截面进行平均晶粒尺寸的测定方法,包含与晶体试样中的位置相关的取向、取向差和花样质量因子的测量要求。注1:使用光学显微镜测定晶粒尺寸已为大家普遍接受,与其相比,EBSD具有很多技术优势,如高的空间分辨率和晶粒取向的定量描述等。注2:该方法还可用于一些复杂材料(如双相材料)的晶粒尺寸测量。注3:对变形程度较大的试样进行分析时,需谨慎处理结果。

起草单位

中国宝武钢铁集团有限公司、中国科学院上海硅酸盐研究所、上海发电设备成套设计研究院、

起草人

姚雷、 张作贵、 曾毅、郑芳、

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