GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法气密性测试方法_标准下载

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GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法气密性测试方法

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for gas-tightness

GB/T 5594.1-1985

国家标准推荐性

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标准GB/T 5594.1-1985标准状态

发布于：1985-11-27
实施于：1986-12-01
废止

标准详情

标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法气密性测试方法
标准号：GB/T 5594.1-1985
中国标准分类号：L32
发布日期：1985-11-27
国际标准分类号：
实施日期：1986-12-01
技术归口：工业和信息化部（电子）
代替标准：
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：

内容简介

本标准适用于电子元器件结构陶瓷室温下气密性的测试。
国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法气密性测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。

起草单位

电子部12所、

起草人

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