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GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法

GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for volume resistivity

GB/T 5594.5-1985

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标准GB/T 5594.5-1985标准状态

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标准详情

  • 标准名称:电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
  • 标准号:GB/T 5594.5-1985
    中国标准分类号:L32
  • 发布日期:1985-11-27
    国际标准分类号:
  • 实施日期:1986-12-01
    技术归口:工业和信息化部(电子)
  • 代替标准:
    主管部门:工业和信息化部(电子)
  • 标准分类:

内容简介

本标准适用于电子元器件结构陶瓷在室温至500℃范围体积电阻率的测定。
国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法》由339-1(工业和信息化部(电子))归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

起草单位

南京电子管厂、

起草人

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