GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）_标准下载

GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）

Electromechanical components for electronic equipment—Basic testing procedures and measuring methods—Part 25-2: Test 25b: Attenuation (insertion loss)

GB/T 5095.2502-2021

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标准GB/T 5095.2502-2021标准状态

发布于：2021-03-09
实施于：2021-10-01
废止

标准详情

标准名称：电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）
标准号：GB/T 5095.2502-2021
中国标准分类号：L23
发布日期：2021-03-09
国际标准分类号：31.220.10
实施日期：2021-10-01
技术归口：全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学电子电信设备用机电元件插头和插座装置、连接器

内容简介

国家标准《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）》由TC166（全国电子设备用机电元件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
GB/T5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。本部分描述了测量作为频率函数的衰减／插入损耗的频域法和时域法。注：本文件从始至终引用了“衰减”一词。当按样品和传输线类型进行测量的专业试验人员总结和报告试验测量结果时，必须使用合适的术语（衰减或插入损耗）。

起草单位

四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院、

起草人

庞斌、朱茗、汪其龙、肖淼、刘俊、

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