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SJ/T 2658.1-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第1部分:总则

SJ/T 2658.1-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第1部分:总则

SJ/T 2658.1-2015

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  • 标准名称:半导体红外发射二极管测量方法 第1部分:总则
  • 标准号:SJ/T 2658.1-2015
    中国标准分类号:L53
  • 发布日期:2015-10-10
    国际标准分类号:31.080
  • 实施日期:2016-04-01
    技术归口:工业和信息化部电子工业标准化研究院
  • 代替标准:代替SJ 2658.1-1986
    主管部门:工业和信息化部
  • 标准分类:电子学半导体分立器件SJ 电子

内容简介

行业标准《半导体红外发射二极管测量方法 第1部分:总则》由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口上报,主管部门为工业和信息化部。本部分规定了对半导体红外发射二极管(以下简称器件)进行光电参数测量的一般要求,包括测试仪表的误差范围、电源的性能要求以及测试环境条件。本部分适用于半导体红外发射二极管。

起草单位

工业和信息化部电子工业标准化研究院

起草人

张戈、赵英

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