YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法_标准下载

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YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法

YS/T 1160-2016

行业标准-YS 有色金属推荐性

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标准YS/T 1160-2016标准状态

发布于：2016-07-11
实施于：2017-01-01
废止

标准详情

标准名称：工业硅粉定量相分析二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法
标准号：YS/T 1160-2016
中国标准分类号：H12
发布日期：2016-07-11
国际标准分类号：29.045
实施日期：2017-01-01
技术归口：全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)
代替标准：
主管部门：工业和信息化部
标准分类：电气工程半导体材料 YS 有色金属

内容简介

行业标准《工业硅粉定量相分析二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法》，主管部门为工业和信息化部。本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定，测定范围为≥1%。

起草单位

昆明冶金研究院、广州有色金属研究院、国家有色金属及电子材料分析测试中心、云南永昌硅业股份有限公司、通标标准技术服务有限公司

起草人

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