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SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法

SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法

SJ/T 11765-2020

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标准SJ/T 11765-2020标准状态

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标准详情

  • 标准名称：晶体管低频噪声参数测试方法
  • 标准号：SJ/T 11765-2020
    中国标准分类号：L42
  • 发布日期：2020-12-09
    国际标准分类号：31.080
  • 实施日期：2021-04-01
    技术归口：基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
  • 代替标准：
    主管部门：工业和信息化部
  • 标准分类：电子学半导体分立器件三极管SJ 电子

内容简介

行业标准《晶体管低频噪声参数测试方法》由基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组归口上报，主管部门为工业和信息化部。本标准规定了晶体管1Hz~300kHz频率范围内的噪声参数测试方法及要求。本标准适用于双极型晶体管与场效应晶体管，其他晶体管产品可参照执行。

起草单位

起草人

罗宏伟、胡为、王小强

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