当前位置:标准网 行业标准

YS/T 1105-2024 半导体封装用键合银丝

YS/T 1105-2024 半导体封装用键合银丝

YS/T 1105-2024

行业标准-YS 有色金属推荐性
收藏报错

标准YS/T 1105-2024标准状态

  1. 发布于:
  2. 实施于:
  3. 废止

标准详情

  • 标准名称:半导体封装用键合银丝
  • 标准号:YS/T 1105-2024
    中国标准分类号:H68
  • 发布日期:2024-10-24
    国际标准分类号:77.150.99
  • 实施日期:2025-05-01
    技术归口:全国有色金属标准化技术委员会
  • 代替标准:代替YS/T 1105-2016
    主管部门:工业和信息化部
  • 标准分类:冶金有色金属产品其他有色金属产品制造业YS 有色金属

内容简介

行业标准《半导体封装用键合银丝》,主管部门为工业和信息化部。本文件规定了半导体仆立器件、集成电路、LED封装用键合银丝(以下简称键合银丝)的分类和标记、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存及随行文件和订货单内容。本文件适用于半导体封装用键合银丝。

起草单位

烟台一诺电子材料有限公司、贺利氏(招远)贵金属材料有限公司、北京达博有色金属焊料有限责任公司、浙江佳博科技股份有限公司、上杭县紫金佳博电子新材料科技有限公司、深圳金斯达半导体材料有限公司、山东科大鼎新电子科技有限公司、贵研铂业股份有限公司、丰睿成(湖北)半导体材料有限公司

起草人

林良、王婷、刘团结、闫茹、薛子夜、周钢、李天祥、苗海川、赵义东、刘炳磊、付建彬、张虎、周文艳、程林峰、刘新娜、康菲菲、李军

相近标准

YS/T 1105-2016 半导体封装用键合银丝
YS/T 641-2024 半导体封装用键合铝丝
YS/T 678-2024 半导体封装用键合铜丝
GB/T 8750-2022 半导体封装用金基键合丝、带
SJ/T 10705-1996 半导体器件键合丝表面质量检验方法
20242557-T-339 半导体器件封装用梯度材料外壳设计要求
20240784-T-339 半导体器件的机械标准化 第6-16部分:焊球阵列封装(BGA)、焊盘阵列封装(LGA)、密节距焊球阵列封装(FBGA)和密节距焊盘阵列封装(FLGA)的半导体试验和老化插座术语表
SJ/T 10424-1993 半导体器件用钝化封装玻璃粉
20243275-T-339 半导体封装用带预制焊环盖板

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

  • 标准质量:
  • 下载说明

  • ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
    ② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们,感谢!
    ③ 本站资源均来源于互联网,仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。