当前位置:标准网 行业标准

SJ 2214.10-1982 半导体光敏二、三极管光电流的测试方法

SJ 2214.10-1982 半导体光敏二、三极管光电流的测试方法

SJ 2214.10-1982

行业标准-SJ 电子强制性
收藏报错

标准SJ 2214.10-1982标准状态

  1. 发布于:
  2. 实施于:
  3. 废止

标准详情

  • 标准名称:半导体光敏二、三极管光电流的测试方法
  • 标准号:SJ 2214.10-1982
    中国标准分类号:L50
  • 发布日期:1982-11-30
    国际标准分类号:31.260
  • 实施日期:1983-07-01
    技术归口:
  • 代替标准:被SJ/T 2214-2015代替
    主管部门:
  • 标准分类:广播电子学技术管理通信SJ 电子广播综合

内容简介

起草单位

起草人

相近标准

SJ2214.3-1982半导体光敏二极管暗电流的测试方法
SJ2214.4-1982半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法
SJ2214.5-1982半导体光敏二极管结电容的测试方法
SJ2214.6-1982半导体光敏三极管集电极-发射极反向击穿电压的测试方法
SJ2214.7-1982半导体光敏三极管饱和压降的测试方法
SJ2214.8-1982半导体光敏三极管暗电流的测试方法
SJ2214.9-1982半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法
SJ2215.1-1982半导体光耦合器测试方法总则
SJ2215.10-1982半导体光耦合器直流电流传输比的测试方法
SJ2215.11-1982半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

  • 标准质量:
  • 下载说明

  • ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
    ② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们,感谢!
    ③ 本站资源均来源于互联网,仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。