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SJ 3249.1-1989 半绝缘砷化镓和磷化铟体单晶材料的电阻率测试方法

SJ 3249.1-1989 半绝缘砷化镓和磷化铟体单晶材料的电阻率测试方法

SJ 3249.1-1989

行业标准-SJ 电子强制性
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标准SJ 3249.1-1989标准状态

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标准详情

  • 标准名称：半绝缘砷化镓和磷化铟体单晶材料的电阻率测试方法
  • 标准号：SJ 3249.1-1989
    中国标准分类号：H80
  • 发布日期：1989-03-20
    国际标准分类号：29.045
  • 实施日期：1989-03-25
    技术归口：
  • 代替标准：
    主管部门：
  • 标准分类：电气工程技术管理综合标准化管理与一般规定SJ 电子

内容简介

本标准规定了半绝缘砷化镓和磷化铟体单晶材料电阻率的测量原量，仪器设备，测量步骤，计算方法。本标准适用于室温电阻率为10^(6)～10^(8)Ω·cm均匀的砷化镓和磷化铟体单品半绝缘材料、电阻率在10^(4)～10^(5)Ω·cm时也可参照使用。

起草单位

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