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SJ 20789-2000 MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法

SJ 20789-2000 MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法

SJ 20789-2000

行业标准-SJ 电子强制性
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标准SJ 20789-2000标准状态

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标准详情

  • 标准名称：MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法
  • 标准号：SJ 20789-2000
    中国标准分类号：L40
  • 发布日期：2000-10-20
    国际标准分类号：31.080
  • 实施日期：2000-10-20
    技术归口：中国电子技术标准化研究所
  • 代替标准：
    主管部门：信息产业部
  • 标准分类：电子学SJ 电子

内容简介

本规范规定了MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选的试验方法。本规范适用于MOS场效应晶体管（以下简称电阻器）热敏参数快速筛选。本规范规定了MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选的试验方法。本规范适用于MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选。

起草单位

杭州电源技术研究所

起草人

叶奇放、易本健、赵英等

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