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SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理

SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理

SJ/T 10741-2000

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  • 标准名称：半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
  • 标准号：SJ/T 10741-2000
    中国标准分类号：L56
  • 发布日期：2000-12-28
    国际标准分类号：31.200
  • 实施日期：2001-03-01
    技术归口：中国电子技术标准化研究所
  • 代替标准：代替GB/T 3834-1983(部分)
    主管部门：信息产业部
  • 标准分类：电子学SJ 电子

内容简介

行业标准《半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理》，主管部门为信息产业部。本标准规定了半导体集成电路CMOS电路电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路CMOS电路电特性的测试。

起草单位

中国电子技术标准化研究所

起草人

李燕荣、孙人杰

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