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SJ/T 11471-2014 发光二极管外延片测试方法

SJ/T 11471-2014 发光二极管外延片测试方法

SJ/T 11471-2014

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标准SJ/T 11471-2014标准状态

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  • 标准名称：发光二极管外延片测试方法
  • 标准号：SJ/T 11471-2014
    中国标准分类号：H83
  • 发布日期：2014-10-14
    国际标准分类号：29.045
  • 实施日期：2015-04-01
    技术归口：工业和信息化部电子工业标准化研究院
  • 代替标准：
    主管部门：工业和信息化部
  • 标准分类：电气工程SJ 电子

内容简介

行业标准《发光二极管外延片测试方法》由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口上报，主管部门为工业和信息化部。本标准规定了可见光发光二极管外延片(以下简称外延片)的几何参数、表面缺陷、结构参数及光电参数的测试方法。本标准适用于镓砷磷系、镓铝砷系、铝镓铟磷系及铝镓铟氮系外延片。

起草单位

上海蓝光科技有限公司、山东华光光电子有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、厦门华联电子有限公司、上海大晨光电科技有限公司、深圳雷曼光电科技股份有限公司、厦门三安电子有限公司、深圳市淼浩高新科技开发有限公司、大连路美芯片科技有限公司、厦门大学物理与机电工程学院、华南师范大学光电子材料与技术研究所、晶能光电(江西)有限公司

起草人

潘尧波、丁晓民

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