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T/CAIA YQ003-2016 光谱仪器用线阵CCD光电性能 通用测试方法

T/CAIA YQ003-2016 光谱仪器用线阵CCD光电性能 通用测试方法

T/CAIA YQ003-2016

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标准详情

  • 标准名称：光谱仪器用线阵CCD光电性能 通用测试方法
  • 标准号：T/CAIA YQ003-2016
    中国标准分类号：C401
  • 发布日期：2016-12-10
    国际标准分类号：31.260
  • 实施日期：2017-03-15
    团体名称：中国分析测试协会
  • 标准分类：C 制造业电子学

内容简介

本标准规定了光谱范围为190nm～1100nm的光谱仪器用线阵电荷耦合成像器件的术语和参数测试方法本标准适用于光谱范围为190nm～1100nm的光谱仪器用线阵电荷耦合成像器件（以下简称CCD器件）的参数测试测试方法的分类本标准规定的测试方法分类如下：——方法01暗信号；——方法02暗信号非均匀性（固定图像噪声）；——方法03读出噪声；——方法04光响应非线性、饱和输出信号；——方法05动态范围；——方法06信噪比；——方法07缺陷；——方法08光响应非均匀性；——方法09响应率；——方法10光谱响应范围

起草单位

中国电子科技集团公司第四十四研究所、钢研纳克检测技术有限公司、清华大学、烟台东方分析仪器有限公司、聚光科技（杭州）股份有限公司、天津大学、上海理工大学。

起草人

陈吉文、李金、汪朝敏、姚鸿、屈小艳、陈红兵、唐遵烈、丁振敏、孙利群、赵珍阳、吕全超、赵友全、陶春先、马华平

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