T/CGWSTC 001-2022 陶瓷原料中多种成分的测定 X 射线荧光光谱法（粉末压片）_标准下载

T/CGWSTC 001-2022 陶瓷原料中多种成分的测定 X 射线荧光光谱法（粉末压片）

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本文件规定了测定陶瓷原料中多种成分X射线荧光光谱法的原理、试剂和材料、仪器设备、试样制备、分析步骤、结果计算、精密度及实验报告

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