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T/CASAS 030-2023 GaN毫米波前端芯片测试方法

T/CASAS 030-2023 GaN毫米波前端芯片测试方法

T/CASAS 030-2023

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标准详情

  • 标准名称：GaN毫米波前端芯片测试方法
  • 标准号：T/CASAS 030-2023
    中国标准分类号：C398
  • 发布日期：2023-06-30
    国际标准分类号：31.080.01
  • 实施日期：2023-07-01
    团体名称：北京第三代半导体产业技术创新战略联盟
  • 标准分类：C 制造业

内容简介

T/CASAS030—2023《GaN毫米波前端芯片测试方法》描述了GaN毫米波前端芯片的术语、定义、测试条件、测试要求和测试方法，结合了近几年科研人员在毫米波氮化镓前端芯片领域的研发、测试评估以及应用方面的经验总结，对毫米波氮化镓前端芯片性能指标的测试方法进行了详细的规定，包括且不限于测试目的、测试环境、测试方法及步骤、测试工具及仪表等。

起草单位

中国电子科技集团第五十五研究所、中兴通讯股份有限公司、北京大学、苏州能讯高能半导体有限公司、中国科学院半导体研究所、中国电子科技集团第十三研究所、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟。

起草人

周强、龚健伟、余旭明、刘建利、王茂俊、徐瑞鹏。

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