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T/CASAS 029-2023 Sub-6GHz GaN射频器件微波特性测试方法

T/CASAS 029-2023 Sub-6GHz GaN射频器件微波特性测试方法

T/CASAS 029-2023

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标准T/CASAS 029-2023标准状态

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标准详情

  • 标准名称:Sub-6GHz GaN射频器件微波特性测试方法
  • 标准号:T/CASAS 029-2023
    中国标准分类号:C398
  • 发布日期:2023-06-30
    国际标准分类号:31.080.01
  • 实施日期:2023-07-01
    团体名称:北京第三代半导体产业技术创新战略联盟
  • 标准分类:C 制造业

内容简介

T/CASAS029—2023《Sub-6GHzGaN射频器件微波特性测试方法》描述了Sub-6GHzGaN射频器件微波特性的详细测试方法。本文件适用于共源组成方式的GaN射频器件,其它组成方式仅供参考。制定Sub-6GHzGaN射频器件微波特性的测试方法以及相关规范,对研发生产、性能评估、量产测试和应用评价等具有重要指导意义。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所、北京大学、河北博威集成电路有限公司、北京国联万众半导体科技有限公司、中兴通讯股份有限公司、西安电子科技大学、河北北芯半导体科技有限公司、苏州能讯高能半导体有限公司、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟。

起草人

默江辉、吴文刚、王金延、郭跃伟、刘相伍、刘建利、郑雪峰、迟雷、裴轶、徐瑞鹏。

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