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T/BDT 002-2024 射频前端器件及模组测试设备

T/BDT 002-2024 射频前端器件及模组测试设备

T/BDT 002-2024

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标准详情

  • 标准名称：射频前端器件及模组测试设备
  • 标准号：T/BDT 002-2024
    中国标准分类号：C356
  • 发布日期：2024-10-09
    国际标准分类号：25.040.01
  • 实施日期：2024-10-10
    团体名称：中国半导体行业协会
  • 标准分类：机械制造C 制造业

内容简介

本文件规定了射频前端器件及模组测试设备的产品分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存
本文件适用于射频前端器件及模组测试设备的设计、制造和检验
支持24射频端口器件的全自动全切换射频测试机，在满足0.5dB@0dB的校准精度的基础上实现8端口S参数和功率的自动校准，缩短校准时；间的同时减少手动校准带来误差，确保准确性S参数测量达到±0.2dB@0dB也可稳定运行，在此技术上增加同步串测，区别于测试机行业传统测试为多站并测的架构。

起草单位

南京派格测控科技有限公司、南京国博电子股份有限公司、无锡卓海科技股份有限公司、宏晶微电子科技股份有限公司、无锡邑文微电子科技股份有限公司、成都市易冲半导体有限公司、弥费科技（上海）股份有限公司、江苏宝浦莱半导体有限公司、深圳前沿标准技术服务有限公司

起草人

胡信伟、李翔、侯林、张宇、孙文彬、刘伟、汪桃红、相宇阳、汤琦、周燕、张宏达、何睿、缪峰、顾宝龙

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