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T/SLDA 017-2024 Mini&Micro LED显示屏Mura缺陷评价方法

T/SLDA 017-2024 Mini&Micro LED显示屏Mura缺陷评价方法

T/SLDA 017-2024

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标准T/SLDA 017-2024标准状态

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  • 标准名称：Mini&Micro LED显示屏Mura缺陷评价方法
  • 标准号：T/SLDA 017-2024
    中国标准分类号：L53/M732
  • 发布日期：2024-12-31
    国际标准分类号：31.120
  • 实施日期：2024-12-31
    团体名称：深圳市照明与显示工程行业协会
  • 标准分类：电子学M 科学研究和技术服务业

内容简介

本文件规定了Mini/MicroLED显示屏Mura缺陷测试的一般要求、亮度Mura缺陷评价和色度Mura缺陷评价
本文件适用于子像素由最长边小于300μm的LED芯片构成的，且子像素和像素均呈矩形排列的室内外Mini/MicroLED显示屏
其它排列方式的室内外Mini/MicroLED显示屏参考执行
本标准规定了Mini/MicroLED显示屏Mura缺陷测试的一般要求、亮度Mura缺陷评价和色度Mura缺陷评价。本标准给出了测试Mini/MicroLED显示屏Mura缺陷要求的测试设备、电源、稳定条件、被测区域、测量角度、测量距离。本标准提出了亮度Mura缺陷评价的方法，包含测试程序中，每个像素的亮度对比度（Cp_i）、计算其最小可觉察差异对比度（C_jndi）、亮度Mura指数LMU_i、待测区域亮度Mura缺陷指数LMU等计算公式。本标准提出了色度Mura缺陷评价的方法，包含测试程序中，主波长差异?λ_Dpi、待测区域色度Mura缺陷指数CMU等计算公式。

起草单位

厦门市产品质量监督检验院、海目星激光科技集团股份有限公司、深圳市照明与显示工程行业协会、重庆康佳光电科技有限公司、卡莱特云科技股份有限公司、南京光启图像科技有限公司、厦门强力巨彩光电科技有限公司、海信视像科技股份有限公司、深圳市联建光电股份有限公司、东莞阿尔泰显示技术有限公司、利亚德光电股份有限公司、通标标准技术服务有限公司深圳分公司、惠科股份有限公司、深圳市晶台股份有限公司、厦门特仪科技有限公司、深圳市灰度科技有限公司、深圳市领灿科技有限公司、厦门大学、深圳雷曼光电科技股份有限公司、嘉庚创新实验室、中国计量科学研究院、北京理工大学、中国标准化研究院、深圳市宝安区新型显示产业技术促进中心。

起草人

庄庆瑞、彭信翰、史园、萧俊龙、张雄涛、金彪、周国华、景发俊、庄鹏、张登印、刘汉平、梁文骥、刘莉、陈惠玲、刘雅斌、严春伟、王世锐、谢志君、潘青松、李金钗、屠孟龙、陈赤、朱虹、洪震、赵飞、伍春平、徐雅丽、尧刚、郑剑平、葛莉荭、王国安、董健、王蕾、余俊霞。

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