GB/T 1557-2006 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
GB/T 1557-2006
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标准GB/T 1557-2006标准状态
- 发布于:2006-07-18
- 实施于:2006-11-01
- 废止
内容简介
国家标准《硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法》由610(中国有色金属工业协会)归口,主管部门为中国有色金属工业协会。
本标准规定了采用红外光谱法测定硅单晶中的间隙氧含量的方法。本标准适用于室温电阻率大于0.1Ω?cm的n型硅单晶和室温电阻率大于0.5Ω?cm的p型硅单晶中间隙氧含量的测量。本标准测量氧含量的有效范围从1×10的16次方at/cm3到硅中间隙氧的最大固溶度。
起草单位
峨眉半导体材料厂、
起草人
梁洪、 覃锐兵、 王炎、
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