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GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法

GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法

Standard test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay

GB/T 1553-1997

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标准GB/T 1553-1997标准状态

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  • 标准名称：硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
  • 标准号：GB/T 1553-1997
    中国标准分类号：H21
  • 发布日期：1997-06-03
    国际标准分类号：77.040.01
  • 实施日期：1997-12-01
    技术归口：全国半导体材料和设备标准化技术委员会
  • 代替标准：代替GB 1553-1979;GB 5257-1985被GB/T 1553-2009代替
    主管部门：国家标准化管理委员会
  • 标准分类：冶金金属材料试验金属材料试验综合

内容简介

本标准规定了硅和锗单晶体内少数载流子寿命的测量方法。 本标准适用于非本征硅和锗单晶体内载流子复合过程中非平衡少数载流子寿命的测量。

起草单位

峨嵋半导体材料厂

起草人

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