GB/T 4937.23-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命
GB/T 4937.23-2023
国家标准推荐性
收藏
报错
标准GB/T 4937.23-2023标准状态
- 发布于:2023-05-23
- 实施于:2023-12-01
- 废止
内容简介
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
本文件描述了随时间的推移,偏置条件和温度对固态器件影响的试验方法。该试验以加速寿命模式模拟器件工作,主要用于器件的鉴定和可靠性检验。短期的高温偏置寿命通常称之为老炼,可用于筛选试验中剔除早期失效产品。本文件未规定老炼的详细要求和应用。
起草单位
中国电子科技集团公司第十三研究所、池州信安电子科技有限公司、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司、河北北芯半导体科技有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、广东科信电子有限公司、
起草人
冉红雷、 张魁、 彭浩、 魏兵、 柯汉忠、 颜天宝、 张忠祥、黄杰、尹丽晶、徐昕、刘银燕、
相近标准
20201540-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分:机械冲击
20162479-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分:功率循环
20193134-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分:密封
20141818-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第25部分:温度循环
20201547-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分:闩锁试验
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。
- 标准质量:
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们,感谢!
③ 本站资源均来源于互联网,仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。
下载说明
「相关推荐」
- 1 GB/T 42403-2023 激光器和激光相关设备 激光光谱特性测量方法
- 2 GB/T 42158-2023 微机电系统(MEMS)技术 微沟槽和棱锥式针结构的描
- 3 GB/T 42191-2023 MEMS压阻式压力敏感器件性能试验方法
- 4 GB/T 42576-2023 北斗/全球卫星导航系统(GNSS)高精度片上系统(
- 5 GB/T 42742-2023 L波段75kW连续波磁控管技术要求
- 6 GB/T 42308-2023 电子设备用电位器 第6-1部分:空白详细规范 表面
- 7 GB/T 40815.5-2022 电气和电子设备机械结构 符合英制系列和公制系
- 8 GB/T 42207.5-2022 电子设备用连接器 产品要求 矩形连接器 第5部分:
- 9 GB/T 42210-2022 液晶显示屏用点对点(P2P)信号接口 电参数
- 10 GB/T 42257-2022 铬铒共掺钇钪镓石榴石晶体光学及激光性能测量方法
- 11 GB/T 42209-2022 液晶显示屏用点对点(P2P)信号接口 传输协议
- 12 GB/T 41869.1-2022 光学和光子学 微透镜阵列 第1部分:术语