GB/T 7289-2017 电学元器件 可靠性 失效率的基准条件和失效率转换的应力模型
GB/T 7289-2017
国家标准推荐性标准GB/T 7289-2017标准状态
- 发布于:2017-11-01
- 实施于:2018-05-01
- 废止
内容简介
国家标准《电学元器件 可靠性 失效率的基准条件和失效率转换的应力模型》由TC24(全国电工电子产品可靠性与维修性标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
本标准规定了如何利用失效率数据进行电子设备中的电子元器件可靠性预计。基准条件是在大量应用中所观测到的元器件应力典型值。基准条件之所以有用,是因为它可通过采用考虑真实工作条件的应力模型,计算出任何条件下的失效率。在早期设计阶段,基准条件下的失效率允许用于实际的可靠性预计。本标准描述的应力模型是通用模型,可在需要时作为基准条件下失效率数据转换为真实工作条件下失效率的基础,这简化了预计方法,失效率数据的转换只允许在元器件规定的功能使用限制范围内进行。本标准还就如何构建元器件失效率数据库,以提供可用于本标准应力模型的失效率提供了指南。指定失效率数据的基准条件是为了使不同来源的数据可以在同一基准上进行比较。如果失效率数据依照本标准给出,则不需要附加特定条件的信息。本标准不提供元器件的基本失效率,而是提供模型把通过其他方式获得的失效率由一种工作条件转换到另一工作条件下的失效率。本标准描述的预计方法都假定元器件是在使用寿命期内使用的。本标准方法有通用性,但明确适用于第6章和附录E.2中给出的元器件类型。
起草单位
工业和信息化部电子第五研究所、
起草人
莫郁薇、 周军连、 任艳、 聂国健、翟芳、
相近标准
20214730-T-339 电学元器件可靠性:失效率的基准条件和失效率转换的应力模型
20181779-T-339 可靠性试验 第7部分:恒定失效率和恒定失效强度的验证试验
GB/T 5080.7-1986 设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案
20204843-T-339 可靠性数据分析方法—两种恒定失效率和两个恒定失效密度(事件)的比较程序
20233730-T-339 设备可靠性试验 第6部分:恒定失效率和恒定失效强度的有效性检验与估计试验
GB/T 5080.6-1996 设备可靠性试验 恒定失效率假设的有效性检验
20204115-T-339 可靠性应力筛选-第2部分:电子元器件
GB/T 17564.4-2009 电气元器件的标准数据元素类型和相关分类模式 第4部分:IEC标准数据元素类型和元器件类别基准集
CB/T 3817-1998 船舶干粮库的空气调节与通风设计条件和计算基准
CB/T 3773-1996 船舶机舱集控室的空气调节与通风设计条件和计算基准
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。
- 标准质量:
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们,感谢!
③ 本站资源均来源于互联网,仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。
下载说明
「相关推荐」
- 1 GB/T 34893-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面
- 2 GB/T 34894-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构应
- 3 GB/T 34973-2017 LED显示屏干扰光现场测量方法
- 4 GB/T 34983-2017 光伏用树脂金刚石切割线
- 5 GB/T 34989-2017 连接器 安全要求和试验
- 6 GB/T 34898-2017 微机电系统(MEMS)技术 MEMS谐振敏感元件非线性振动
- 7 GB/T 34899-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于拉曼光谱法的微结构表
- 8 GB/T 34900-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构残
- 9 GB/T 6115.2-2017 电力系统用串联电容器 第2部分:串联电容器组用保
- 10 GB/T 13555-2017 挠性印制电路用聚酰亚胺薄膜覆铜板
- 11 GB/T 13556-2017 挠性印制电路用聚酯薄膜覆铜板
- 12 GB/T 14708-2017 挠性印制电路用涂胶聚酯薄膜