GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法
GB/T 36477-2018
国家标准推荐性标准GB/T 36477-2018标准状态
- 发布于:2018-06-07
- 实施于:2019-01-01
- 废止
内容简介
国家标准《半导体集成电路 快闪存储器测试方法》由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。
起草单位
中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司、中兴通讯股份有限公司、中芯国际集成电路制造(上海)有限公司、深圳市中兴微电子技术有限公司、复旦大学、
起草人
菅端端、 陈大为、 冯光涛、 倪昊、 田万廷、 高硕、 钟明琛、罗晓羽、赵子鉴、董艺、闵昊、刘刚、
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