GB/T 4937.12-2018 半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动_标准下载

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GB/T 4937.12-2018 半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 12: Vibration, variable frequency

GB/T 4937.12-2018

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标准GB/T 4937.12-2018标准状态

发布于：2018-09-17
实施于：2019-01-01
废止

标准详情

标准名称：半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动
标准号：GB/T 4937.12-2018
中国标准分类号：L40
发布日期：2018-09-17
国际标准分类号：31.080.01
实施日期：2019-01-01
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学半导体分立器件半导体分立器件综合

内容简介

国家标准《半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
GB/T4937的本部分的目的是测定在规定频率范围内，振动对器件的影响。本试验是破坏性试验，通常用于有空腔的器件。本试验与GB/T2423.10-2008基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所、

起草人

迟雷、彭浩、崔波、高金环、岳振鹏、李树杰、裴选、张艳杰、

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