SJ/T 11824-2022 金属氧化物半导体场效应晶体管 (MOSFET)等效电容和电压变化率测试方法
SJ/T 11824-2022
行业标准-SJ 电子推荐性标准SJ/T 11824-2022标准状态
- 发布于:2022-10-20
- 实施于:2023-01-01
- 废止
内容简介
行业标准《金属氧化物半导体场效应晶体管 (MOSFET)等效电容和电压变化率测试方法》,主管部门为工业和信息化部。本文件描述了金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)等效电容和电压变化率的测试方法。本文件适用于金属氧化物半导体场效应晶体管。
起草单位
西安芯派电子科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团第十三研究所
起草人
罗义陈周帅、竹永辉、蔡巧娟、冯海科、侯青、崔波、张秋、侯雨晨、辛石磊
相近标准
20242747-T-339 半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)可靠性试验方法 第1部分:偏置温度不稳定性试验方法
20242719-T-339 半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)可靠性试验方法 第2部分:体二极管工作引起的双极退化的试验方法
FZ/T 70009-2012 毛纺织产品经洗涤后松弛尺寸变化率和毡化尺寸变化率试验方法
FZ/T 70009-2021 毛纺织产品经洗涤后松弛尺寸变化率和毡化尺寸变化率试验方法
GB/T 16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方法
20232400-T-339 同轴通信电缆 第1-125 部分:电气试验方法 等效相对介电常数和等效介质损耗因数试验
20233837-T-339 光伏器件 第5部分:用开路电压法确定光伏(PV)器件的等效电池温度(ECT)
JB 7112-2000 集合式高电压并联电容器
SJ/T 11082-2000 电子管热丝或灯丝电流和电压的测试方法
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。
- 标准质量:
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们,感谢!
③ 本站资源均来源于互联网,仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。
下载说明
「相关推荐」
- 1 SJ/T 11864-2022 半绝缘型碳化硅单晶衬底
- 2 SJ/T 11845.1-2022 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法
- 3 SJ/T 11457.2-2022 波导型介电谐振器 第2部分:应用于振荡器和滤波
- 4 SJ/T 10691-2022 变频变压电源通用规范
- 5 SJ/T 11873-2022 超声波测距传感器总规范
- 6 SJ/T 11816-2022 玩具用锂离子电池和电池组 通用规范
- 7 SJ/T 11838-2022 水泥行业信息化和工业化融合评估规范
- 8 SJ/T 11850-2022 半导体分立器件 3DK2219A、3DK2222A、3DK2222AUB型NPN硅小功
- 9 SJ/T 11920-2023 电子电气产品中七种邻苯二甲酸酯的测定高效液相色
- 10 SJ/T 11919-2023 电器电子产品限制释放挥发性有机物种类及阈值设定
- 11 YD 5102-2010 通信线路工程设计规范
- 12 YD 5189-2010 长途通信光缆塑料管道工程施工监理暂行规定