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SJ/T 12040-2025 数字芯片设计一致性验证方法

SJ/T 12040-2025 数字芯片设计一致性验证方法

SJ/T 12040-2025

行业标准-SJ 电子推荐性
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标准SJ/T 12040-2025标准状态

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标准详情

  • 标准名称：数字芯片设计一致性验证方法
  • 标准号：SJ/T 12040-2025
    中国标准分类号：L56
  • 发布日期：2025-09-09
    国际标准分类号：31.2
  • 实施日期：2026-03-01
    技术归口：全国集成电路标准化技术委员会
  • 代替标准：
    主管部门：工业和信息化部
  • 标准分类：电子学SJ 电子

内容简介

行业标准《数字芯片设计一致性验证方法》，主管部门为工业和信息化部。本文件描述了数字芯片设计一致性的验证方法。本文件适用于设备公司、系统公司等芯片使用方对拟选用数字芯片的设计一致性进行评估验证，或者芯片公司对所研发芯片的设计一致性进行评估验证。

起草单位

中国移动通信有限公司研究院、中国电子技术标准化研究院、中国移动通信集团有限公司、中国移动通信集团有限公司供应链管理中心、中国移动紫金（江苏）创新研究院有限公司、深圳市中兴微电子技术有限公司、飞腾信息技术有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、科技有限公司、北京奕斯伟计算技术股份有限公司、北京力通通信有限公司、武汉飞思灵微限公司、南京创芯慧联技术有限公司、北京得瑞领新科技有限公司、极芯通讯技术有限公司、广州慧智微电子股份有限公司、联想未来通信科技（重庆）有限公司

起草人

李男、王大鹏、胡臻平、丁海煜、杜玉欣、韩延涛、王琪、宋维熙、罗晓羽、刘婧迪、李文智、张敏、乔珺、唐涛、李壮壮、金鹏、高峰、高毅、刘征、李德建、赵金生、唐本亭、杨海俊、刘伟东、赵丹怀、陈永洲、刘康伟、杨骥、陈金凌、程汶阳、胡永俊、毛雪飞、刘舒、张花、郑康、杨杰、沈钦义、钟明琛、单书珊、何宁、李颖祎、叶亚飞、周礼兵、刘莹、安英杰、倪海峰、刘大可、张军、陈晨、陈泽岩、胡朝彬、王金宝

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