当前位置:标准网 行业标准

SJ 20787-2000 半导体桥式整流器热阻测试方法

SJ 20787-2000 半导体桥式整流器热阻测试方法

SJ 20787-2000

行业标准-SJ 电子强制性
收藏报错

标准SJ 20787-2000标准状态

  1. 发布于:
  2. 实施于:
  3. 废止

标准详情

  • 标准名称:半导体桥式整流器热阻测试方法
  • 标准号:SJ 20787-2000
    中国标准分类号:L40
  • 发布日期:2000-10-20
    国际标准分类号:29.200
  • 实施日期:2000-10-20
    技术归口:中国电子技术标准化研究所
  • 代替标准:
    主管部门:信息产业部
  • 标准分类:电气工程SJ 电子

内容简介

本标准规定了半导体桥式整流器稳态热阻的测试方法本标准适用于单相和三相半导体桥式整流器稳态热阻的测试。本标准规定了半导体桥式整流器稳态热阻的测试方法。本标准适用于单相和三相半导体桥式整流器稳态热阻的测试。

起草单位

中国电子技术标准化研究所

起草人

王长福、顾振球、易本健

相近标准

SJ20789-2000MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法
SJ50033/110-1996半导体光电子器件GR9413型红外发射二极管详细规范
SJ50033/115-1997半导体分立器件2CK28型硅大电流开关二极管详细规范
SJ50033/116-1997半导体分立器件2CK29型硅大电流开关二极管详细规范
SJ50033/117-1997半导体分立器件2CK38型硅大电流开关二极管详细规范
SJ50033/118-1997半导体分立器件2EK31型砷化镓开关二极管详细规范
SJ50033/119-1997半导体分立器件CS204型砷化镓微波功率场效应晶体管详细规范
SJ50033/120-1997半导体分立器件CS205型砷化镓微波功率场效应晶体管详细规范
SJ50033/121-1997半导体分立器件CS3458~CS3460型硅N沟道结型场效应晶体管详细规范
SJ50033/122-1997半导体分立器件CS3684~CS3687型硅N沟道结型场效应晶体管详细规范

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

  • 标准质量:
  • 下载说明

  • ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
    ② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们,感谢!
    ③ 本站资源均来源于互联网,仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。