GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理_标准下载

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GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

Semiconductor integrated circuits--General principles of measuring methods of voltage regulator

GB/T 4377-1996

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标准GB/T 4377-1996标准状态

发布于：1996-07-09
实施于：1997-01-01
废止

标准详情

标准名称：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
标准号：GB/T 4377-1996
中国标准分类号：L56
发布日期：1996-07-09
国际标准分类号：31.200
实施日期：1997-01-01
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
代替标准：代替GB 4377-1984被GB/T 4377-2018代替
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准规定了半导体集成电路电压调整器（以下简称器件）电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路电压调整器电特性的测试，不适用于双端（单端口）器件。

起草单位

北京半导体器件五厂、

起草人

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