GB/T 44924-2024 半导体集成电路射频发射器/接收器测试方法_标准下载

当前位置：标准网

GB/T 44924-2024 半导体集成电路射频发射器/接收器测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring methods for RF transmitter/receiver

GB/T 44924-2024

国家标准推荐性

收藏报错

标准GB/T 44924-2024标准状态

发布于：2024-12-31
实施于：2025-04-01
废止

标准详情

标准名称：半导体集成电路射频发射器/接收器测试方法
标准号：GB/T 44924-2024
中国标准分类号：L56
发布日期：2024-12-31
国际标准分类号：31.200
实施日期：2025-04-01
技术归口：全国集成电路标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体集成电路射频发射器/接收器测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本文件规定了半导体集成电路射频发射器和接收器（以下简称器件）的电特性测试方法的基本原理和测试程序。
本文件适用于具有接收功能、发射功能、收发一体功能的一次变频射频发射器/接收器，其他类型的发射器和接收器可参考使用。

起草单位

中国电子科技集团公司第二十四研究所、中国电子科技集团公司第十四研究所、成都振芯科技股份有限公司、重庆西南集成电路设计有限责任公司、中国电子科技集团公司第三十八研究所、深圳市晶峰晶体科技有限公司、

起草人

苏良勇、王露、戚园、刘丹、陈翔、刘晓政、唐景磊、阳润、许娟、苏巧、范超、高青、

相近标准

20242556-T-339 半导体集成电路嵌入式存储器测试方法
SJ/T 11702-2018 半导体集成电路串行外设接口测试方法
SJ/T 10805-2018 半导体集成电路电压比较器测试方法
SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
SJ/T 11706-2018 半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

点击下载