T/CNS 81-2022 电荷耦合器件质子位移损伤效应模拟试验方法_标准下载

T/CNS 81-2022 电荷耦合器件质子位移损伤效应模拟试验方法

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本文件适用于宇航用CCD位移损伤效应辐照试验
本文件描述了采用质子对电荷耦合器件（CCD）进行位移损伤效应辐照试验的一般要求、试验方法和程序。

中国科学院新疆理化技术研究所、中国科学院微小卫星创新研究院、中国航天科技集团公司第五研究院物资部

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