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T/HBAI 001-2024 有机发光二极管显示器 表面云纹 (Mura)缺陷量化方法

T/HBAI 001-2024 有机发光二极管显示器 表面云纹 (Mura)缺陷量化方法

T/HBAI 001-2024

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  • 标准名称:有机发光二极管显示器 表面云纹 (Mura)缺陷量化方法
  • 标准号:T/HBAI 001-2024
    中国标准分类号:C397
  • 发布日期:2024-10-17
    国际标准分类号:31.120
  • 实施日期:2024-10-25
    团体名称:湖北省人工智能学会
  • 标准分类:电子学C 制造业

内容简介

本文件规定了有机发光二极管显示器表面云纹(Mura)缺陷量化的分级标准及实验条件、方法
本文件主要适用于有机发光二极管显示器
本文件主要技术内容包括基于人眼空间响应的Mura缺陷量化的主观实验测试方法,同时提出Mura缺陷各因素的计算方法和量化模型,包括多因素非线性拟合模型和基于MLP的神经网络模型
包括基于人眼空间响应的Mura缺陷量化的主观实验测试方法,同时提出Mura缺陷各因素的计算方法和量化模型,包括多因素非线性拟合模型和基于MLP的神经网络模型。

起草单位

华中科技大学、武汉精测电子集团股份有限公司、武汉数字化设计与制造创新中心有限公司

起草人

杨华、尹周平、郑增强、朱钦淼、刘天洋、唐斯昂、闻铭、刘洒、林松、陈若愚

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