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GB/T 4937.32-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的)

GB/T 4937.32-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的)

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 32:Flammability of platic-encapsulated devices(externally induced)

GB/T 4937.32-2023

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标准GB/T 4937.32-2023标准状态

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  • 标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的)
  • 标准号:GB/T 4937.32-2023
    中国标准分类号:L40
  • 发布日期:2023-05-23
    国际标准分类号:31.080.01
  • 实施日期:2023-12-01
    技术归口:全国半导体器件标准化技术委员会
  • 代替标准:
    主管部门:工业和信息化部(电子)
  • 标准分类:电子学半导体分立器件半导体分立器件综合

内容简介

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的)》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
本文件适用于半导体器件(分立器件和集成电路),以下简称器件。本文件用于确定器件是否由于外部发热造成燃烧。本试验使用针焰,模拟内部装有元器件的设备在故障条件下可能引起的小火焰的影响。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所、合肥联诺科技股份有限公司、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司、河北北芯半导体科技有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司、

起草人

裴选、 张魁、 彭浩、 魏兵、 黄纪业、席善斌、林瑜攀、颜天宝、

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